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半導體計量

理學是設(shè)計和制造以X射線為基礎(chǔ)測量工具的前驅(qū)者和領(lǐng)導者之一。在半導體領(lǐng)域有將近30年的市場先導作用,我們的產(chǎn)品家族從工廠生產(chǎn)控制到產(chǎn)品研發(fā)用于薄膜和材料的表征。